TableXAFS是一種基于同步輻射的先進表征技術。當X射線光子能量接近并超過材料中特定原子內層電子的電離閾值時,其吸收系數會出現閾值之上的精細振蕩結構。該振蕩來源于出射光電子波與周圍鄰近原子背散射電...
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CT型真空紫外光譜儀具備較高的靈敏度和分辨率,能夠精確測量微弱的光譜信號,揭示物質更細微的結構和性質。其次,該儀器具備較寬的波長覆蓋范圍,可以覆蓋從近紫外到真空紫外區(qū)域的多個波長范圍,滿足各種研究需求...
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真空紫外光譜儀采用Seya- Namioka光路結構,入射狹縫和CCD探測器位于羅蘭圓上,可以單色模式和光譜模式切用 。
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x射線吸收精細結構(XAFS)譜儀,原位X射線吸收光譜是一種利用同步輻射光源或高性能實驗室X射線源,測量并分析材料對X射線的吸收系數隨光子能量變化的精細結構的大型實驗裝置。通過在反應過程中實時監(jiān)測吸收...
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X射線吸收精細結構(XAFS)譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價態(tài)、 配位數、位形與鍵長。
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X射線吸收精細結構(XAFS)譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價態(tài)、 配位數、位形與鍵長。
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